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GB/T17626.20-2014電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)橫電磁波（TEM）波導(dǎo)中的發(fā)射和抗擾度試驗(yàn).pdf

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資料簡(jiǎn)介：GB/T17626的本部分給出了利用各種TEM波導(dǎo)進(jìn)行電子和電氣設(shè)備發(fā)射和抗擾度試驗(yàn)的方法。TEM波導(dǎo)有開(kāi)放式（例如，帶狀線(xiàn)和電磁脈沖（EMP)模擬器）和封閉式（例如，TEM室），還可以進(jìn)一步分為單端口、雙端口和多端口波導(dǎo).TEM波導(dǎo)的適用頻率范圍取決于具體的試驗(yàn)需求和TEM波導(dǎo)的具體類(lèi)型。
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GB/T17626.20-2014電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)橫電磁波（TEM）波導(dǎo)中的發(fā)射和抗擾度試驗(yàn)下載
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